一、原子力显微镜概括：
原子力显微镜（afm）能以原子分辨率探测并放大探针尖端与样品原子之间的力。由于原子力显微镜不仅能观察到导体，而且能观察到非导体，因此它弥补了原子力显微镜的不足。原子力显微镜于1985年由苏黎世 ibm 的 gerd binnig 发明，因此可以用类似于扫描探针显微镜的方法观察非导体。半导体激光器发射的激光束通过光学系统聚焦在微悬臂梁的背面，从微悬臂梁的背面反射到由光电二极管组成的光斑位置检测器。原子力显微镜（afm）和扫描隧道显微镜显微镜（stm）之间最大的区别在于，它们不使用电子隧穿效应，而是通过探测原子之间的接触和键合、范德华力、 casimir 效应等来表征样品的表面。我们以激光作为检测研究原子力显微镜来详细设计说明其工作管理原理。
二、原子力显微镜的应用：
1、在生物学中，原子力显微镜可以用来研究生物大分子的结构和其他性质，如蛋白质、 rna、 dna，甚至细胞和病毒。
2、在物理学中，原子力显微镜可以用来研究金属和半导体的表面形貌、表面重构、表面电子状态及其动态过程、超导体的表面结构和电子层状材料中的电荷密度。
3、原子力显微镜可以间接测量力与间距的关系，所以除了形态学观察外，还可以用来测量原子间力。
