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新推出的美国Solarius Pioneer 3D共聚焦显微系统以纳米级精度满足复杂结构表面的各种测试要求，超高性价比。
●纳米级高精度，高分辨率
●高质量原始数据
●专利MPD共聚焦核心技术
●符合ISO标准粗糙度测量（同时支持GB/T，DIN，NF，JIS等）
●非接触式无损光学测量
●超高性价比
●稳定性好，免维护
相关应用：对材料/产品/工件做表面非接触式三维形貌扫描，分析2D/3D表面形貌、轮廓几何尺寸（长度、宽度、深度、角度、面积、体积等）、表面粗糙度、平整度、翘曲、曲率、面形精度、摩擦磨损及腐蚀等参数指标。
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