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非接触式3D共聚焦显微系统

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德国Mahr MarSurf CM explorer

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全新版本的MarSurf CM explorer是表面精密三维测量和分析的全方位解决方案系统。该设备适合实验室环境以及生产环境中使用,只需要简单几个步骤,就能轻松提供可靠3D测量。
●测量速度快,即使全分辨率扫描
●人性化设计理念
●防碰撞检测系统使得测量更加安全
●16位高动态范围功能
●高清拼接-即使大范围测量始终高分辨率
相关应用:对材料/产品/工件做表面非接触式三维形貌扫描,分析2D/3D表面形貌、轮廓几何尺寸(长度、宽度、深度、角度、面积、体积等)、表面粗糙度、平整度、翘曲、曲率、面形精度、摩擦磨损及腐蚀等参数指标。
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